利用光的独特性质精确测量厚度,非接触式测量,不会造成元件表面损坏或变形。最多可同时测量31层厚度,最高精度±0.1微米,集成装置,操作简单。适用于光学元件、透镜组件、隐形眼镜及人工晶状体、医用导管窥镜、显示屏、半导体、抛光玻璃等各种厚度及空气间隔测量。