Bristol Instruments提供了一系列测厚仪产品，可方便地测量厚度，并具有很高的测量精度以及重复性，以适用于大部分的应用需求。更重要的是，这些产品采用了一种非常有效的技术，即使用非接触式光学探针进行无损检测，同时这种技术还可以同时测量多层膜的厚度。
产品特点：
1.可测量硬材料和软材料，并且不会造成损坏或变形
2.用于精确定位测量位置的可见光束
3.同时测量多达31层
4.使用内置的固有长度标准进行连续校准
5.测量置信水平≥99.7%
6.可追溯至NIST标准
7.测量频率高达20赫兹
8.使用USB或以太网进行PC通讯
9.提供基于Windows的光学测量软件，用于设置测量参数和输出测量数据
10.使用LabVIEW、.NET或自定义编程进行自动数据报告，无需专用PC
软件测量界面：
应用领域：
1. 光学元件和透镜组件
2. 可测量单个镜片以及镜头组包括空气间隔
3. 隐形眼镜和人工晶状体
4. 测量中心厚度、矢高和群折射率
5. 医用导管窥镜
6. 可同时测量壁厚、内径和外径，管壁厚度、管颈和管锥的壁厚
7. LCD, LED, OLED 和AMOLED显示屏
8. 可测量总厚度和各层厚度，包括LOCA(液体光学透明粘合剂)层
9. 半导体
10. 硅/砷化镓晶片
11. 玻璃抛光
12. 测量化学腐蚀前后的厚度或抛光工艺，使玻璃板更薄、更轻。
LensThick ATW全自动光学测厚仪
设备原理
设备基于低相干干涉原理，采用非接触式光学测量，并配备高精度移动平台和机器视觉定位系统，自动测量产品的厚度以及空气间隔
典型应用
自动无损测量单透镜中心厚度/镜头组每个透镜的中心厚度和空气间隙
设备特点
1. 配备非接触式光学测厚仪，全自动化测量，实时显示测量数据
2. 精度可达±0.1μm，重复性可达±0.02μm，量程可达80mm
3. 最多可同时测量多达31层厚度
4. 通过机器视觉识别定位，运用高精度算法，定位精度高，准确可靠
5. 全中文软件界面，操作便捷，自动甄别反射峰，一键式测量
主要配置/设备关键部件
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非接触式光学测厚仪 |
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测量光程 |
12mm/40mm/80mm |
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测量精度 |
±0.1μm/1μm |
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测量重复性 |
±0.02μm/±0.05μm |
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工作波长 |
1310nm |
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测量速度 |
20Hz/7Hz/4Hz |
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XR平台参数 |
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平面度 |
±0.005mm |
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直线度 |
±0.005mm |
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重复定位精度 |
±0.001mm |
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绝对位置精度 |
±0.001mm |
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机器视觉相机 |
2000万 |
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工作环境及设备尺寸参数 |
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工作电压 |
220V±10% |
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工作环境 |
室温-10℃-45℃，湿度≤95% |
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相对环境湿度 |
在+40℃时≤90% R.H.（无冷凝） |
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外形尺寸 |
109*60*135（cm） |
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设备总重量 |
约300㎏ |