光学检测与计量

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　　随着高光谱成像技术的发展，越来越多来自不同领域的专家学者开始投入到高光谱成像技术与光学计量的应用研究当中。但高光谱成像数据获取和光学检测存在成本高、数据获取难度大等困难，为了更好地满足广大科研工作者对高光谱成像技术与光学计量数据的需求，我司可提供光学检测与计量服务。

　　测样设备

自动化非接触式光学测厚仪

　　   基本参数：

　　● 测量精度：±0.1μm；

　　● 重复性：±0.02μm；
　　● 量程：80mm；
　　● 最多可同时测量31层厚度；
　　● 机器视觉识别定位；
　　● 高精度算法、高定位精度；
　　● 可测试样品：光学元件以及镜头模组及其他；

　　  应用领域：

　　● 单镜片、镜头组的中心厚度和空气间隔；
　　● 隐形眼镜和人工晶状体的中心厚度、矢高和群折射率；
　　● 医用导管窥镜的壁厚、内径和外径，管壁厚度、管径和管锥的壁厚；
　　● LCD、LED、OLED等显示屏总厚度、各层厚度；

　　● 半导体，硅/砷化镓晶片厚度；

　　● 玻璃抛光前后的厚度，评估抛光工艺；

     

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