产品介绍
JT400轴对准测试系统外观图
Inframet设计生产的用于测试多传感器监控系统的MS系列测试系统不仅支持这些监控系统的扩展性测试,也支持轴对准测试。然而,MS系列测试系统是相对昂贵高端的测试系统。JT多传感器轴对准测试系统是相对经济的系统,用于精确的轴对准测试以及光电多传感器监控系统的基本参数测试。
测试功能:
1. 不同视场的热像仪的轴对准;
2. 不同镜头焦距的可见光-近红外相机的轴对准;
3. 可见光-近红外相机与热像仪之间的轴对准;
4. 激光测距机与可见光-近红外相机之间的轴对准;
5. 激光测距机与热像仪之间的轴对准;
6. 激光指示器与可见光/近红外相机以及热像仪之间的轴对准;
7. 可见光/近红外相机的分辨率/灵敏度;
8. 热像仪的分辨率;
9. 激光测距机的发散角;
10. 参考光轴与参考机械轴(平面)的对准误差。
可选:
1. 可见光/近红外相机与短波红外相机之间的轴对准;
2. 热像仪与短波红外相机之间的轴对准;
3. 短波红外相机的分辨率/灵敏度。
产品参数:
表1. JT系列系统的版本基于平行光管口径
口径编码 |
平行光管有效输出口径(mm) |
平行光管内死区 |
尺寸 |
JT150 |
150 |
46 |
270x340x740 mm |
JT200 |
200 |
51 |
320x410x980 mm |
JT250 |
250 |
56 |
350x440x1150mm |
JT300 |
300 |
70 |
450x520x1450mm |
JT400 |
400 |
81 |
550x620x1850mm |
JT500 |
500 |
96 |
650x 720x2300 mm |
JT600 |
600 |
125 |
750x820x2750mm |
JT-EX |
可选600以上 |
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/ |
表2. JT测试系统版本
编码 |
计算机化控制/轴对准/测试功能 |
模块 |
X1 |
非计算机化测试系统
典型的成像系统的轴对准(热像仪,电视相机,光学瞄准系统等) 测试范围:可见光-近红外相机以及热像仪的分辨率测试
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CJT平行光管,DNSB双色源,CDNSB控制器,USAF1951靶标,IR-USAF1951靶标
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X2 |
非计算机化测试系统 典型的成像系统的轴对准(热像仪,电视相机,光学瞄准系统等)以及单脉冲激光测距机 测试范围:可见光-近红外相机以及热像仪的分辨率测试 |
CJT平行光管,DNSB双色源,CDNSB控制器,USAF1951靶标,IR-USAF1951靶标,多图形靶标,一组MON卡,一组TEG卡,一组TEP卡,一组OA衰减器,AH1适配器 |
X3 |
X2+多脉冲激光测距机与激光指示器可以被校准,增加了ABS卡,LIC卡以及两个ILU卡。
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CJT平行光管,DNSB双色源,CDNSB控制器,USAF1951靶标,IR-USAF1951靶标,多图形靶标,一组MON卡,一组TEG卡,一组TEP卡,一组OA衰减器,AH1适配器,ABS卡,LIC卡以及两套ILU卡 |
Y1 |
计算机化测试系统 典型的成像系统的轴对准(热像仪,电视相机,光学瞄准系统等)与单脉冲激光测距机 测试范围:可见光-近红外相机以及热像仪的分辨率测试 粗略测试激光测距机的发散角
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CJT平行光管,DNSB双色源,CDNSB控制器,USAF1951靶标,IR-USAF1951靶标,多图形靶标,一组MON卡,一组TEG卡,一组TEP卡,一组OA衰减器,AH1适配器,图像采集卡,计算机,BOR软件 |
Y2 |
Y1+多脉冲激光测距机与激光指示器 |
CJT平行光管,DNSB双色源,CDNSB控制器,USAF1951靶标,IR-USAF1951靶标,多图形靶标,一组MON卡,一组TEG卡,一组TEP卡,一组OA衰减器,AH1适配器,图像采集卡,计算机,BOR软件,ABS卡,LIC卡以及两套ILU卡 |
Y3 |
Y2+ JT光轴可垂直于被测系统固定平台的基准机械面 |
Y2+带自准直功能的CJT平行光管、及BRL相机 |
Y4 |
Y3+激光测距机的发散角测试功能 |
Y3+SR10相机以及升级BOR软件 |
Y5 |
Y4+激光接收器轴对准功能 |
Y4+BRES接收器对准模块和CBRES控制程序 |
附加选项:
1. JT工作站的任何版本都可以在所选版本中添加字母S,扩展到SWIR成像仪的测试。
2. Inframet可以在所选版本中添加Borex,提供特殊的Borex平台来固定被测成像仪,以支持光电系统的专业对准。