JT 多传感器轴对准测试系统


产品介绍



JT400轴对准测试系统外观图


       Inframet设计生产的用于测试多传感器监控系统的MS系列测试系统不仅支持这些监控系统的扩展性测试,也支持轴对准测试。然而,MS系列测试系统是相对昂贵高端的测试系统。JT多传感器轴对准测试系统是相对经济的系统,用于精确的轴对准测试以及光电多传感器监控系统的基本参数测试。

测试功能:

1. 不同视场的热像仪的轴对准;

2. 不同镜头焦距的可见光-近红外相机的轴对准;

3. 可见光-近红外相机与热像仪之间的轴对准;

4. 激光测距机与可见光-近红外相机之间的轴对准;

5. 激光测距机与热像仪之间的轴对准;

6. 激光指示器与可见光/近红外相机以及热像仪之间的轴对准;

7. 可见光/近红外相机的分辨率/灵敏度;

8. 热像仪的分辨率;

9. 激光测距机的发散角;

10. 参考光轴与参考机械轴(平面)的对准误差。

可选:

     1. 可见光/近红外相机与短波红外相机之间的轴对准;

     2. 热像仪与短波红外相机之间的轴对准;

     3. 短波红外相机的分辨率/灵敏度。

产品参数:

表1. JT系列系统的版本基于平行光管口径

口径编码

平行光管有效输出口径(mm

平行光管内死区
(mm)

尺寸

JT150

150

46

270x340x740 mm

JT200

200

51

320x410x980 mm

JT250

250

56

350x440x1150mm

JT300

300

70

450x520x1450mm

JT400

400

81

550x620x1850mm

JT500

500

96

650x 720x2300 mm

JT600

600

125

750x820x2750mm

JT-EX

可选600以上

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/


表2. JT测试系统版本

编码

计算机化控制/轴对准/测试功能

模块

X1

非计算机化测试系统


典型的成像系统的轴对准(热像仪,电视相机,光学瞄准系统等)

  测试范围:可见光-近红外相机以及热像仪的分辨率测试



CJT平行光管,DNSB双色源,CDNSB控制器,USAF1951靶标,IR-USAF1951靶标

 


X2

非计算机化测试系统

典型的成像系统的轴对准(热像仪,电视相机,光学瞄准系统等)以及单脉冲激光测距机

测试范围:可见光-近红外相机以及热像仪的分辨率测试

CJT平行光管,DNSB双色源,CDNSB控制器,USAF1951靶标,IR-USAF1951靶标,多图形靶标,一组MON卡,一组TEG卡,一组TEP卡,一组OA衰减器,AH1适配器

X3

X2+多脉冲激光测距机与激光指示器可以被校准,增加了ABS卡,LIC卡以及两个ILU卡。

CJT平行光管,DNSB双色源,CDNSB控制器,USAF1951靶标,IR-USAF1951靶标,多图形靶标,一组MON卡,一组TEG卡,一组TEP卡,一组OA衰减器,AH1适配器,ABS卡,LIC卡以及两套ILU卡

Y1


计算机化测试系统

  典型的成像系统的轴对准(热像仪,电视相机,光学瞄准系统等)与单脉冲激光测距机

  测试范围:可见光-近红外相机以及热像仪的分辨率测试

  粗略测试激光测距机的发散角


CJT平行光管,DNSB双色源,CDNSB控制器,USAF1951靶标,IR-USAF1951靶标,多图形靶标,一组MON卡,一组TEG卡,一组TEP卡,一组OA衰减器,AH1适配器,图像采集卡,计算机,BOR软件

Y2

Y1+多脉冲激光测距机与激光指示器

CJT平行光管,DNSB双色源,CDNSB控制器,USAF1951靶标,IR-USAF1951靶标,多图形靶标,一组MON卡,一组TEG卡,一组TEP卡,一组OA衰减器,AH1适配器,图像采集卡,计算机,BOR软件,ABS卡,LIC卡以及两套ILU卡

Y3

Y2+ JT光轴可垂直于被测系统固定平台的基准机械面

Y2+带自准直功能的CJT平行光管、及BRL相机

Y4

Y3+激光测距机的发散角测试功能

Y3+SR10相机以及升级BOR软件

Y5

Y4+激光接收器轴对准功能

Y4+BRES接收器对准模块和CBRES控制程序

附加选项:

1. JT工作站的任何版本都可以在所选版本中添加字母S,扩展到SWIR成像仪的测试。

2. Inframet可以在所选版本中添加Borex,提供特殊的Borex平台来固定被测成像仪,以支持光电系统的专业对准。

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