产品介绍
JIMS800轴对准测试系统
JIMS测试系统作为JT测试系统的特殊版本，适用于测试光学口径超过1000mm的光电系统。是一套对于水平方向布局的光电系统测试理想的解决方案。由于CEB模块产生的内部对准误差较小， JIMS测试系统的测试精度（0.2mrad）会比JT测试系统（低于0.1mrad）略差。JIMS可以看作JT400系统带有CEB平行光管折镜的附加模块，可以在某方向（通常是水平方向）将平行光管孔径增加到1000毫米。对于成像/激光传感器位于大型水平平台上的超大型地球观测监视系统，JIMS是一个理想且经济的轴对准测试解决方案。
产品参数
表1 基于最大距离的JIMS系统型号
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产品型号 |
被测光电系统两传感器中心最大距离 |
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JIMS600 |
600mm |
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JIMS700 |
700mm |
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JIMS800 |
800mm |
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JIMS900 |
900mm |
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JIMS1000 |
1000mm |
表2 JIMS测试系统版本
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编码 |
计算机化控制/轴对准/测试功能 |
模块 |
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X1 |
非计算机化测试系统
典型的成像系统的轴对准（热像仪，电视相机，光学瞄准系统等）
测试范围：可见光-近红外相机以及热像仪的分辨率测试
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CJT400平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标，多图形靶标，CEB扩展器
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X2 |
非计算机化测试系统
典型的成像系统的轴对准（热像仪，电视相机，光学瞄准系统等）以及单脉冲激光测距机
测试范围：可见光-近红外相机以及热像仪的分辨率测试
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CJT400平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标，多图形靶标，一组MON卡，一组TEG卡，一组TEP卡，一组OA衰减器，AH1适配器，CEB扩展器
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X3 |
X2+多脉冲激光测距机与激光指示器可以被校准，增加了ABS卡，LIC卡以及两个ILU卡。 |
CJT400平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标，多图形靶标，一组MON卡，一组TEG卡，一组TEP卡，一组OA衰减器，AH1适配器，ABS卡，LIC卡以及两套ILU卡，CEB扩展器 |
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Y1 |
计算机化测试系统
典型的成像系统的轴对准（热像仪，电视相机，光学瞄准系统等）与单脉冲激光测距机
测试范围：可见光-近红外相机以及热像仪的分辨率测试
粗略测试激光测距机的发散角
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CJT400平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标，多图形靶标，一组MON卡，一组TEG卡，一组TEP卡，一组OA衰减器，AH1适配器，图像采集卡，计算机，BOR软件，CEB扩展器 |
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Y2 |
Y1+多脉冲激光测距机与激光指示器轴对准
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CJT400平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标，多图形靶标，一组MON卡，一组TEG卡，一组TEP卡，一组OA衰减器，AH1适配器，图像采集卡，计算机，BOR软件，ABS卡，LIC卡以及两套ILU卡，CEB扩展器 |
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Y3 |
Y2+ JT系统的光轴可以垂直于被测系统所在的平台参考机械平面 |
Y2+更新了自动准直CJT平行光管、及BRL相机 |
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Y4 |
Y2+精确测量被测激光测距机的发散角
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CJT平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶标，IR-USAF1951靶标，多图形靶标，一组MON卡，一组TEG卡，一组TEP卡，一组OA衰减器，AH1适配器，图像采集卡，计算机，BOR软件，ABS卡，LIC卡以及两套ILU卡，BRL相机，SR10相机，CEB扩展器 |