SIT型VIS-SWIR成像探测器测试系统是测试VIS-SWIR光谱波段敏感的成像探测器(或相机机芯)而开发的测试系统，能够测量光谱范围从400nm到2200nm的VIS-SWIR成像探测器(硅、黑硅、InGaAs)的辐射参数和光谱参数。可以测量以下参数：相对光谱灵敏度、响应度、噪声等效照度、D*(比探测率)和空间噪声。

       SIT测试系统是两个主要模块的总和：波长和光强连续可调的校准光源SITO和IPS图像处理系统(PC、图像采集卡、软件)。被测探测器位于SITO光源的输出端，传感器受到所需波长和辐照度的光的均匀照射，被测探测器生产标准格式的图像，通过IPS系统采集并分析图像，确定VIS-SWIR成像探测器的重要参数。

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