产品介绍
SOL型VIS-SWIR 成像探测器测试系统是一个用于测试在VIS-SWIR光谱波段敏感的成像探测器(硅/黑硅/InGaAs)的测试系统。
从设计的角度看，SOL测试系统是一种能够进行光谱带宽阶跃调节、光强连续调节的标定光源，对被测成像探测器和图像处理系统进行照射，进而分析被测成像探测器(摄像机芯)产生的图像。阶跃光谱滤波是用一组窄带滤波片来实现的。光源可在VIS-SWIR范围内(400-2500nm或更窄的波段)产生16个不同光谱波段的光。
SOL可以测量一系列辐射、光度和光谱参数。
辐射参数
噪声等效照度、响应函数(响应度、线性度、动态范围)、D*(比探测率)、量子效率、空间噪声
光度参数
噪声等效照度、响应函数
SOL光源提供的任何窄带都可以测量辐射参数。这样也可以测量被测成像探测器的相对光谱灵敏度。
产品参数
一般参数
温度范围(工作/储存)
+5ºC到+35ºC / -5ºC到+55ºC
尺寸
119x40x24cm
重量
29.2kg