Bristol非接触式光学测厚仪
Bristol Instruments提供了一系列测厚仪产品，可方便地测量厚度，并具有极高的测量精度以及重复性，以适用于大部分的应用需求。更重要的是，这些产品采用了一种极为有效的技术，即使用非接触式光学探针进行无损检测，同时这种技术还可以同时测量多层膜的厚度。
产品特点：
· 可测量硬材料和软材料，并且不会造成损坏或变形
· 用于精确定位测量位置的可见光束
· 同时测量多达31层
· 使用内置的固有长度标准进行连续校准
· 测量置信水平≥99.7%
· 可追溯至NIST标准
· 测量频率高达20赫兹
· 使用USB或以太网进行PC通讯
· 提供基于Windows的光学测量软件，用于设置测量参数和输出测量数据
· 使用LabVIEW、.NET或自定义编程进行自动数据报告，无需专用PC
软件测量界面：
应用领域：
· 光学元件和透镜组件
· 可测量单个镜片以及镜头组包括空气间隔
· 隐形眼镜和人工晶状体
· 测量中心厚度、矢高和群折射率
· 医用导管窥镜
· 可同时测量壁厚、内径和外径，管壁厚度、管颈和管锥的壁厚
· LCD, LED, OLED 和 AMOLED 显示屏
· 可测量总厚度和各层厚度，包括LOCA(液体光学透明粘合剂)层
· 半导体
· 硅/砷化镓晶片
· 玻璃抛光
· 测量化学腐蚀前后的厚度或抛光工艺，使玻璃板更薄、更轻。
LensThick ATW全自动光学测厚仪
设备原理
设备基于低相干干涉原理，采用非接触式光学测量，并配备高精度移动平台和机器视觉定位系统，自动测量产品的厚度以及空气间隔
典型应用
自动无损测量单透镜中心厚度/镜头组每个透镜的中心厚度和空气间隙
设备特点
1. 配备非接触式光学测厚仪，全自动化测量，实时显示测量数据
2. 精度可达±0.1μm，重复性可达±0.02μm，量程可达80mm
3. 最多可同时测量多达31层厚度
4. 通过机器视觉识别定位，运用高精度算法，定位精度高，准确可靠
5. 全中文软件界面，操作便捷，自动甄别反射峰，一键式测量
主要配置/设备关键部件
非接触式光学测厚仪
测量光程
12mm/40mm/80mm
测量精度
±0.1μm/1μm
测量重复性
±0.02μm/±0.05μm
工作波长
1310nm
测量速度
20Hz/7Hz/4Hz
XR平台参数
平面度
±0.005mm
直线度
±0.005mm
重复定位精度
±0.001mm
绝对位置精度
±0.001mm
机器视觉相机
2000万
工作环境及设备尺寸参数
工作电压
220V±10%
工作环境
室温-10℃-45℃，湿度≤95%
相对环境湿度
在+40℃时≤90% R.H.(无冷凝)
外形尺寸
109*60*135(cm)
设备总重量
约300㎏